Inspección del aspecto del microprocesador

Después del proceso de empaquetado, los microprocesadores del circuito integrado (IC) se deben probar estrictamente para asegurar la calidad de productos. La inspección del aspecto del microprocesador es un vínculo esencial e importante, que afecta directamente a la calidad de los productos de IC y al progreso liso de los vínculos subsiguientes de la producción. Hay tres métodos de inspección del aspecto: uno es el método tradicional de la inspección manual, que depende principalmente de la inspección visual y de la inspección sub manual. Tiene confiabilidad baja, eficacia baja de la inspección, alta intensidad de trabajo, omisiones en defectos de la inspección, y no puede adaptarse a la producción en masa y a la fabricación; El segundo es el método de detección basado en la tecnología de la medida del laser, que tiene altos requisitos de hardware, alto coste, alto porcentaje de averías de equipo y mantenimiento difícil; El tercero es el método de detección basado en la visión por ordenador. Porque el hardware de sistema de la detección es fácil de integrar y de realizar, la velocidad de la detección es rápida, la exactitud de la detección es alta, y el uso y el mantenimiento es relativamente simples, este método es cada vez más ampliamente utilizados en el campo de la detección del aspecto del microprocesador, que es una tendencia de desarrollo de la detección del aspecto del chip CI.